Вычисление упругих характеристик кристаллических решеток графена и алмаза с применением многочастичных потенциалов

Материал из Department of Theoretical and Applied Mechanics
Версия от 20:46, 14 июня 2011; Вадим Цаплин (обсуждение | вклад) (Новая страница: «В настоящее время большое внимание уделяется исследованию упругих свойств кристаллическ...»)

(разн.) ← Предыдущая | Текущая версия (разн.) | Следующая → (разн.)
Перейти к: навигация, поиск

В настоящее время большое внимание уделяется исследованию упругих свойств кристаллической решетки графена (монослой графита).

В данной работе вычисление упругих модулей кристаллических решеток графена и алмаза ведется с помощью компьютерного эксперимента. При вычислении используется метод молекулярной динамики (ММД) [1] с применением многочастичного потенциала Терсоффа [2], [3], Терсоффа-Бреннера [4], [5], а также потенциала Бреннера второго поколения [8]. В результате компьютерного эксперимента для графена получены значения, приведенные в таблице 1. Количество цифр соответствует точности вычисления.

Таблица 1. Результаты вычислений для решетки графена
Потенциал K,
Н / м
Е,
Н / м
nu C_11 = C_22,
Н / м
C_12,
Н / м
Терсофф 175.4 406.2 -0.158 416.7 -66.0
Бреннер 200.3 235.8 0.411 283.8 116.7
Бреннер 2 201.0 242.7 0.396 287.9 114.1